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5G测试和数据转换器(DAC/ADC)测试技术研讨会在微电子所举办
来源:中国科学院微电子所 | 作者:qkm2016 | 发布时间: 2018-04-08 | 1030 次浏览 | 分享到:
5G测试和数据转换器(DAC/ADC)测试技术研讨会在微电子所举办

3月23日,5G测试和数据转换器(DAC/ADC)测试技术研讨会在微电子所举办,罗德与施瓦茨公司专家以及来自所内各研发中心40余名职工、研究生参加了会议。 

  罗德与施瓦茨公司资深技术专家Markus Loerner先生结合实例案例,详细介绍了5G测试和数据转换器(DAC/ADC)测试相关内容,重点介绍了公司业界领先的SMA100B型信号源。该设备能输出超低谐波并产生高达6GHZ同步时钟信号,适用于需要极纯净模拟信号的测试场合,是验证、评估D/A转换器的理想解决方案,可广泛应用于射频半导体、无线通信等研发任务中的组件、模块和系统的测试与测量任务。作为全球电子测试与测量领域的领导者之一,罗德与施瓦茨公司的测试解决方案被全球数据转换器行业领导者及著名通信公司广泛应用。与会人员就测试过程中遇到的一系列问题与Markus Loerner进行了深入探讨。 

  本次技术交流,使微电子所科研人员更加深入了解了业界领先的D/A测试解决方案,也为罗德与施瓦茨公司了解中国市场和用户的实际需求提供了更广的思路。